20240117-CWT Reproduce

参考文献^[1]

复现参数

Layer	Thickness ($\mu m$)	Dielectric constant
n-clad(AlGaAs)	1.5	11.0224
Active	0.0885	12.8603
PC	0.1180	$\epsilon_{av}$
GaAs	0.0590	12.7449
p-clad(AlGaAs)	1.5	11.0224

$$\epsilon_{av} = FF \cdot \epsilon_a + (1-FF) \cdot \epsilon_b$$

$FF=0.16$, $D=10$, $\epsilon_a=1.0$, $\epsilon_b=12.7449$, $a=295nm$.

后续复现与结果

这篇笔记保留了最初整理的复现参数。后续已基于 3D-CWT 完成相应的数值计算与文献对照，原理、实现方法和结果统一整理在 CWT in PCSEL 中，包括：

• 圆孔、等边三角孔和等腰直角三角孔的填充因子扫描，以及频率与辐射损耗对比；
• 有限尺寸腔的本征谱、四个带边模式族的场分布与阈值对比；
• 腔尺寸依赖、包络网格加密和辅助谐波截断检查。

本页的层结构参数对应梁永博士论文第 3 章；主文中的 70 µm 有限腔算例采用第 4 章 Table 4.1 的另一套层结构，两者应分别使用。复现中的定量偏差及尚未满足的收敛条件也在主文中说明。后续结果请参阅该文，本页不再重复展开。

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1. マルチプルレゾリューション - JaLC (japanlinkcenter.org) ↩︎